スマートフォンの耐久試験の様子を可視化

携帯電話に対して圧力をかけて、壊れていく様子を可視化しました。

スマートフォンの開発において、その耐久試験は重要な計測のひとつです。

本事例では、スマートフォンを含む携帯電話に対して圧力をかけ、壊れていく様子をハイスピードカメラを使用して可視化しました。

計測された結果から、携帯電話が壊れていく様子がはっきりと可視化することができました。

ガラスの亀裂の伸展は非常に速く、10万fpsでようやく捉えられます。

TMX7510は、10万fpsで1280x540の高解像度で撮影することが可能です。

それにより、どこからクラックが起きているか、ガラスの粉塵の飛散具合等を確認できます。

このように、ハイスピードカメラを使用して耐久試験をすることで、通常のカメラでは見えないような現象を可視化することができます。

AppleでもPhantomが利用されています

▲映像ではiPhone 15 Proの落下テストシーンが登場

ハイスピードカメラPhantomは、耐久テストを行うAppleの研究所でも利用されています。

この動画では、様々な落下シーンを模擬して、ロボットアームでiPhoneを落とします。

その様子を2台のPhantom TMX 7510で撮影しています。

2台同期撮影することにより、多角的に観察することができるほか、DIC（デジタル画像相関法）によって3次元的にひずみを可視化することができます。

ノビテックでは、電子機器のテストに関する可視化・解析に最適なカメラ、ソフトウェアを取り扱っています。

画像計測ノウハウを持ったスタッフに、ぜひお気軽にご相談ください。