複合材料の引っ張り試験によるDIC(歪み)解析

提供：大阪大学大学院工学研究所
マテリアル生産科学専攻 中野研究室

ＣＤＳセンサー搭載のVEO1310で撮影を行い、長作動レンズ(同軸落射反射低減用偏光フィルタユニット搭載)・８５０ｎｍ　ＩＲ ＬＥＤ照明の組合せにより阪大マテリアル工学では初めて微細複合材料引っ張り試験におけるＤＩＣ計測に成功しました。

従来、異なる金属粒子は硬度が異なるため、引っ張り強度試験では、様々な　方向に金属粒子角度が変化するため、照明の乱反射影響から拡大撮影によるDICひずみ計測は難易度の高いという課題がありました。

下の画像は、外部からLED照明を照射して引っ張った際の写真です。

この課題に対して、当社ではレンズと同軸から照射できるマイクロスコープを使い、反射が少なく、ひずみ解析が可能な画像を取得できました。

下の画像では、引っ張り後も反射がなく撮影できています。

これにより超拡大撮影によるDICひずみ計測は難易度の高い計測をおこなえるシステムとなりました。

使用機材

• Phantom VEO1310 モノクロ
• 46㎜長作動レンズ 同軸落射仕様
• 偏光フィルターユニット搭載
• 850nmIR・LED照明装置

撮影条件

• 解像度：640×480ピクセル
• 自動露光機能使用(EDR)

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