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ハイスピードカメラによる高速変形の解析|株式会社ノビテック

Q

数100ミクロン~数センチ位の微小物体や、数十センチから1メートル程度の高速に変形する物体に対してひずみ計測を行いたいと思っております。現在大きなものには歪ゲージを用いて計測を行っていますが、点計測しかできないので、全体の面計測が出来ればと思っております。微小物体に対しては現在計測ができておりません。CAEの結果との比較をしたいと考えております。

A

高速変形ということですので、ハイスピードカメラとDIC解析ソフトウェアを用いて面計測を行うことが可能です。平面に近い被写体であれば2次元計測、立体的な被写体に対しては3次元計測を行います。3次元計測の場合は、ハイスピードカメラは2台必要になってきます。
また、基本的に被写体に対して、スペックルパターンと呼ばれる、ランダムドットパターンを塗布する必要があります。スペックルパターンの変形をDIC解析ソフトウェアで解析することによって、ひずみや変位等を算出することができます。

参照ページ

歪み・変位解析ソフトウェア DIC

DIC解析事例

歪み・変位(DIC解析)|メディア

また、微小物体に関しては、スペックルパターンの塗布ができない場合が多いので、金属等であれば、拡大撮影を行うと表面のざらつきが見えますので、それらをスペックルパターンの代わりに用いて解析を実行できることがあります。鏡面のような被写体ですと計測は難しいです。被写体によって計測できるものと、できないものがありますので、お気軽にご相談いただければと思います。

また、ハイスピードカメラに関しては、画像解析に向いたモデルがございます。DIC解析の場合は、低ノイズかつ高速度が要求されます。PhantomVEO1310/1010は、高速度かつ低ノイズなDIC解析に最適なカメラです。DIC解析の精度向上に大きく影響する、CDSという超低ノイズを実現する機能を搭載しております。

PhantomVEO1310/1010|高感度・高速度モデル

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製品のレンタル・撮影や計測請負の他、デモルームもご用意しておりますので、製品デモや見学も承ります。

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