会期：2012年1月18日(水)～20日(金)<終了しました>
会場：東京ビッグサイト　東4ホール
コマ番号：東47-17
 
【出展機材リスト】
・ハイスピードカメラ Phantom Miroシリーズ
・3次元リアルタイムモーション計測システムVENUS3D
・高速・高精度非接触光学式3次元スキャナ Mephisto
・2色温度計測システム Thermera
・ハイスピードカメラ Phantom Vシリーズ
 
※当日は展示会招待券をお持ちいただかない場合、有料（5000円）となります。ご入用の場合には弊社までご連絡ください。
　折り返し招待券をお送り致します。
    TEL：03-3443-2633    Email：
 
 
第29回エレクトロテスト ジャパン 公式サイト
http://www.electrotest.jp/